phoenix v|tome|x m —— 多功能的X射線微聚焦CT系統，用于三維計量和分析，高達300kV/500W 在phoenix v|tome|x m中，貝克休斯公司獨特的300千伏微焦點X射線管是安裝于緊湊的CT系統，用于工業過程控制和科研應用。 該系統提供300千伏下業內放大倍率，并以其高動態DXR數字探測器陣列和點擊與測量| CT（click & measure | CT）自動化功能成為工業檢測和科研的有效的三維工具。 該系統具備雙|管配置，可以為各種樣本范圍提供詳細的三維信息： 從低吸收樣品的高分辨率 nanoCT?到渦輪葉片檢驗等的高功率CT應用。

phoenixnanotomm ——適用于材料科學、傳感/電氣工程、測量技術、地質/生物等領域 phoenixnanotomm是一個nanoCT系統用于科學與工業計算機斷層掃描(microCT與nanoCT)與眾多樣品范圍的三維測量。憑借其專門設計的180千伏/15瓦的帶有內部冷卻和溫度穩定的數字檢測器的高功率納米焦點X射線管，系統的實現了樣品和應用范圍的獨特的空間和對比分辨率-從小的生物和地質標本，到中等大小的工業組件如注射口或注塑成型的塑料零件-也具有金屬嵌體。CT掃描的全自動執行、再現和分析過程確保了其易用性以及快速和可靠的CT結果。

phoenix v|tome|x c —— 一款緊湊型450 kV CT系統 專為無損檢測和質量檢測實驗室使用而設計，應用于鑄造與航空航天等領域。具有維護率低和以生產為導向的設計特點，如簡便的裝載工具、掃描條碼等，以及新的一鍵式按鈕進行自動CT功能，使系統成為質量檢測的一個非常高速有效的工具。 該系統提供檢測的樣品尺寸可以達到500×1000毫米，對于需要大功率穿透的高密度樣品可以配備450kV射線管，可配有高性能線陣列探測器，以減少扇束CT的散射輻射而造成的圖像偽影。而且，為滿足大批量檢測可配數字平板探測器與錐束CT相適應，或是配雙組合探測器組合使用。

phoenix v|tome|x s —— 多功能的高分辨率系統，用于二維X射線檢測和三維計算機斷層掃描(micro ct 與nano ct))以及三維測量 為達到高度的靈活性，phoenix v|tome|x s可從二者中選擇裝備：180千伏/ 15 W高功率nanofocus X射線管和240千伏/ 320瓦的微焦點管. 由于這種獨特的組合，該系統是一個非常有效且可靠的工具，基本應用于對低吸收材料的極高分辨率掃描以及對高吸收物體的三維分析。

v|tome|x L450 —— phoenix v|tome|x L450是多功能高分辨率微焦點系統，用于二維和三維計算機斷層掃描和二維無損X射線檢測 此設備配有**個單極300千伏/ 500 瓦的微聚焦源，確保了300千伏的世界上良好的放大倍率。其基于花崗巖的操作可處理多達50千克，長600 毫米/ 直徑500毫米的大樣本且具有極高的精度。該系統是一個用于無效和缺陷檢測和復合材料、鑄件和精密零件如注射噴口或渦輪葉片的三維測量（如首件檢測）的極好的解決方案。 可選的高功率納米焦距X射線管可使 phoenix v|tome|x L450適應任何種類的工業和科學高分辨率CT應用。

phoenix microme|x —— 高分辨率的微焦點X射線檢測系統，主要設計用于焊點和電子元件的實時X射線檢測 它將高分辨率的二維X射線技術和計算機斷層掃描結合在一個系統中，同時具有創新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質量，可以用于故障分析實驗室以及生產車間。它配備了phoenix|X射線專有的圖像處理軟件，用于PCB裝配的自動檢測，提供更高的缺陷覆蓋率，同時提高了生產效率。

phoenix x|aminer ——— 一款操作簡便的入門級X射線檢測系統, 具有高性能的微焦點無損檢測設備, 專為半導體封裝, 電子元器件和電子組裝等領域高分辨率檢測要求而設計. 現配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強器具有更好的信噪比, 清晰度和實時成像能力, 并可選CT功能. 系統提供了功能強大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動檢測和編程自動檢測

seifert x-cube 高度多功能的160千伏放射鏡檢測系統，用于現場測試和各種小試樣的小系列檢測，包括輕金屬鑄件、鋼構件、塑料、陶瓷和特種合金。 該系統的設計在應用中具有很大的靈活性，如生產、進貨檢測、故障分析或研究和開發 。 憑借其集成的圖像增強系統-Seifert VISTAPLUS-， 標準版的可編程系統可提供快速和高品質的檢測。 它可以處理重型及大型的測試樣品，且可以快速對其進行裝卸。 易于對經驗證的圖像增強系統進行操作與編程，有助于用戶準確保存并做出正確的檢測決定。