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x|aminer

來源:英華檢測    發布時間:2016-12-20    瀏覽次數:4861

phoenix x|aminer

——— 一款操作簡便的入門級X射線檢測系統, 具有高性能的微焦點無損檢測設備,

專為半導體封裝, 電子元器件和電子組裝等領域高分辨率檢測要求而設計. 現配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強器具有更好的信噪比, 清晰度和實時成像能力, 并可選CT功能. 系統提供了功能強大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動檢測和編程自動檢測

特點與益處


主要特點和益處

  • 無使用壽命限制160kV/20W高功率X射線管, 易于穿透高吸收性工件
  • 可選高對比度CMOS平板探測器, 有更好的實時檢測能力
  • CT軟件模塊, 操作簡單快速
  • 設計人性化和操作簡便易用
  • 可實時CAD數據匹配
  • 自動實時導航圖功能, 易于對樣品的上下表面和內部進 行快速定位
  • 激光防碰撞設計以保護工件
  • 占地面積小


應用

安裝好的印刷電路板

μBGA的二維X射線圖像


電力電子器件

將功率半導體元器件的表面焊接到陶瓷基板上。在穿過3毫米厚的銅制散熱器后,基板上可見空洞,半導體的焊點無空洞。甚至連細鋁焊線也可看見。


半導體與其他電子元件

在任何時間通過任何檢測角度通過實時CAD數據匹配得到實時影像


CT 圖像




  • microme|x[2016-12-20]

    phoenix microme|x —— 高分辨率的微焦點X射線檢測系統,主要設計用于焊點和電子元件的實時X射線檢測 它將高分辨率的二維X射線技術和計算機斷層掃描結合在一個系統中,同時具有創新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質量,可以用于故障分析實驗室以及生產車間。它配備了phoenix|X射線專有的圖像處理軟件,用于PCB裝配的自動檢測,提供更高的缺陷覆蓋率,同時提高了生產效率。

  • X-cube[2016-12-21]

    seifert x-cube 高度多功能的160千伏放射鏡檢測系統,用于現場測試和各種小試樣的小系列檢測,包括輕金屬鑄件、鋼構件、塑料、陶瓷和特種合金。 該系統的設計在應用中具有很大的靈活性,如生產、進貨檢測、故障分析或研究和開發 。 憑借其集成的圖像增強系統-Seifert VISTAPLUS-, 標準版的可編程系統可提供快速和高品質的檢測。 它可以處理重型及大型的測試樣品,且可以快速對其進行裝卸。 易于對經驗證的圖像增強系統進行操作與編程,有助于用戶準確保存并做出正確的檢測決定。

  • nanome|x[2016-12-20]

    phoenix nanome|x —— 超高分辨率的納米焦點X射線檢測系統,設計用于檢測半導體及SMT行業的高品質的組件和互連 該系統具有良好的性能和多功能性,可用于二維X射線檢測,以及全三維計算機斷層掃描(nano ct)。有了新的 x|act 軟件包, phoenix nanome|x是可選的系統,用以確保滿足目前和未來的零缺陷要求。

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