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X-cube

來源:英華檢測    發布時間:2016-12-21    瀏覽次數:4985

seifert x-cube

高度多功能的160千伏放射鏡檢測系統,用于現場測試和各種小試樣的小系列檢測,包括輕金屬鑄件、鋼構件、塑料、陶瓷和特種合金。 該系統的設計在應用中具有很大的靈活性,如生產、進貨檢測、故障分析或研究和開發 。


憑借其集成的圖像增強系統-Seifert VISTAPLUS-, 標準版的可編程系統可提供快速和高品質的檢測。 它可以處理重型及大型的測試樣品,且可以快速對其進行裝卸。 易于對經驗證的圖像增強系統進行操作與編程,有助于用戶準確保存并做出正確的檢測決定。


更快的周期時間

來自Fanuc機器人系統的快速驅動器,使得工作件操作更快且開門關門速度更快。

Fanuc觸摸控制板中的X-Touch® 技術,簡化并加速了眾多的控制操作。其自動數字圖像處理技術真正地節省了時間, 因此縮短了整體周期時間。

更快速設置時間

測量系統在無需啟動時自動重置為零,一旦開啟便處于活躍狀態。 用戶檢測程序也更容易操作,因此書寫更快。


靈活性

更大的操作靈活性
旋轉臂現在可于90°范圍內旋轉。

更大的分辨率靈活性
X-cube可與225千伏或160千伏的X射線管共同使用,作為標準,有一個可選的探測器范圍。 因此,分辨率可以匹配,以適合特定用戶的任務。

更強的圖像質量和圖像共享

新的圖像增強系統
X-cube將Vistalux 圖像增強器與多功能的 Vistaplus 圖像增強系統進行了結合。 這樣可以進行高質量圖像的實時集成和實時平均。

新的圖像判讀工具
新的綜合應用工具確保了對檢測結果的有效分析,包括參考圖像的顯示,故障范圍的計算和交互式圖像測量。

可與網絡兼容
圖像增強軟件可與局域網兼容,同時還可將圖像用電子郵件發送,以便進行遠程專家評估或存儲。 檢測文檔可在工作站或一些連接地點生成。

易于使用

帶有教與學性能的直觀的用戶指南使新的X-cube非常易于操作。 新的檢測程序也很容易輸入,并可于不到30秒內落實到位。


低運營成本

需要非常小的占地面積和即插即用安裝,因其密封齒輪箱,X-cube也只需很少的維護。 它是完全電動的,無需氣動或液壓。


CT性能下的無風險投資

組合的二維/三維(計算機斷層掃描)操作所用的新的可選升級包將X-cube轉換成一個多功能試驗機,使用三維錐形束CT進行詳細的X射線檢測。 該采集,容積重建和可視化軟件運行于集成計算機平臺,并提供了依樣本大小而定的約0.1毫米的詳細分辨率。


應用領域

X-cube可應用于很多需要對鑄件、鋼構件、塑料,陶瓷和特種合金進行快速和有效的影像學檢測的工業領域。 其多功能性意味著它可以同樣出色地用于生產部門或研究和開發設施和來料檢驗以及故障分析。 其強大的設計和堅固的軟件籠使其適合用于繁忙的車間,且符合很多重要的國際安全標準。

X-cube有兩種型號,精簡型X-cube和X-cube。 每種型號按160千伏和225千伏型生產,有一個工件支撐臺可供選擇,并能處理重量多達100千克的檢測工件。 然而,特大型有較大的檢測柜,所以它可以用于檢測體積達直徑800毫米高1500毫米的零件,相比之下,精簡型可檢測直徑600毫米高900毫米的零件。

無論是用于石油和天然氣領域的檢測閥,還是用于航空或鋁鑄件還有汽車行業的渦輪葉片,X-cube均提供了完整的富有成效的影像學檢測解決方案。


* 取決于裝載位置。

**一個較高的工件長度是可能的,工件要在同一個裝載位置進行重載和檢測。


  • microme|x[2016-12-20]

    phoenix microme|x —— 高分辨率的微焦點X射線檢測系統,主要設計用于焊點和電子元件的實時X射線檢測 它將高分辨率的二維X射線技術和計算機斷層掃描結合在一個系統中,同時具有創新的功能。多功能、易于使用的phoenix microme|x 提供了出色的圖像質量,可以用于故障分析實驗室以及生產車間。它配備了phoenix|X射線專有的圖像處理軟件,用于PCB裝配的自動檢測,提供更高的缺陷覆蓋率,同時提高了生產效率。

  • x|aminer[2016-12-20]

    phoenix x|aminer ——— 一款操作簡便的入門級X射線檢測系統, 具有高性能的微焦點無損檢測設備, 專為半導體封裝, 電子元器件和電子組裝等領域高分辨率檢測要求而設計. 現配備了新型CMOS平板探測器, 比圖像增強器具有更好的信噪比, 清晰度和實時成像能力, 并可選CT功能. 系統提供了功能強大和易用性好的phoenix x|act base二維軟件和 datos|x base CT軟件, 并允許手動檢測和編程自動檢測

  • nanome|x[2016-12-20]

    phoenix nanome|x —— 超高分辨率的納米焦點X射線檢測系統,設計用于檢測半導體及SMT行業的高品質的組件和互連 該系統具有良好的性能和多功能性,可用于二維X射線檢測,以及全三維計算機斷層掃描(nano ct)。有了新的 x|act 軟件包, phoenix nanome|x是可選的系統,用以確保滿足目前和未來的零缺陷要求。

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